Der Fachausschuss setzt sich zusammen aus Mitgliedern von:
• Hochschulen und Forschungsinstituten
• der Halbleiterindustrie
• Systemherstellern
Die Themenschwerpunkte unserer fachlichen Arbeit sind breit gefächert:
• Defekt- und Fehlermodellierung
• Testerzeugung und Fehlersimulation
• Testgerechter Entwurf
• Selbsttest für Module und Systeme
• Test von HF-Schaltungen
• Systemtest und -zuverlässigkeit
• Diagnose von Ausfallursachen
• Selbstreparatur und Selbstheilung
• Fehlertoleranz und Online-Test
• Robuste und strahlenresistente Systeme
• Test mechatronischer Systeme
• Automatisches Test-Equipment und Testmodellierung
• Testkosten und Qualität
Der TUZ-Workshop - Einladung zum Networking und mehr ...
Der Fachausschuss trifft sich zu regelmäßigen Sitzungen und veranstaltet einmal jährlich einen öffentlichen Workshop. Dieser Workshop hat eine mittlerweile mehr als 35-jährige Tradition als deutsches Network-Event.
Informationen zum aktuellen Workshop sind hier zu finden.
Das Leitungsgremium des Fachausschusses besteht aus Mitgliedern von Hochschulen, Forschungseinrichtungen und Industrie.
Haben wir Ihr Interesse geweckt? Dann sprechen Sie uns doch an!
Dr.-Ing Stephan Eggersglüß, stephan.eggersgluess@siemens.com
Prof. Ilia Polian, Universität Stuttgart, ilia.polian@informatik.uni-stuttgart.de
