15. VDE ITG Fachtagung MN 5.6

Die VDE ITG MN 5.6 Fachtagung ist ein deutsches Forum zur Intensivierung der Diskussion und zum Austausch von Informationen zwischen den deutschsprachigen Halbleiterfirmen, den Universitäten und den Forschungseinrichtungen auf dem Gebiet der Halbleiterprozess-Zuverlässigkeit. Ein weiterer Schwerpunkt ist die weltweite Standardisierung zum Thema HL-Zuverlässigkeit. Während der ITG-Fachtagung werden u.a. Verfahren und Standards (wie z.B.: JEDEC, IEC, AEC-Q) beschrieben, diskutiert sowie Verbesserungsmöglichkeiten erarbeitet.

Die Tagung 2022 steht ganz im Zeichen des neuen Aufbruchs der Halbleiterindustrie Europas (Chips Act) und Deutschland (Rahmenprogramm der Bundesregierung für Forschung und Innovation 2021-2024 sowie Forschung und Innovation für technologische Souveränität), den Schwierigkeiten bei der Transformation der Automobilindustrie, der wachsenden Bedrohung durch Cyberangriffe und immensen Herausforderungen im Bereich der Elektronik-Zuverlässigkeit. Bewerte Zuverlässigkeitsstandards werden obsolete, neue die Lieferkette übergreifende Entwurfskonzepte, Methoden, Tools und Modelle rücken in den Fokus.

Diese Veränderungen bringen auch Veränderungen und Chancen für die etablierte Fachgruppe mit. So ist die Expertise im Bereich fWLR zunehmend von Relevanz bei der Erstellung von Design IP zur Chip internen Überwachung während der Fertigung wie im Feld.

Deadline Anmeldung: 13.05.2022